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當(dāng)前位置:首頁|X射線檢測(cè)設(shè)備
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● 一鍵切換射線源
● 強(qiáng)大的測(cè)試能力,靈活的配置方案
● 多種掃描模式:螺旋、偏置、有限角等
● 具備強(qiáng)大的擴(kuò)展能力
分辨率
像素細(xì)節(jié)分辨能力 | 200nm |
空間分辨率* | 500nm |
X射線源
類型 | 開管反射式 | 開管透射式(微焦點(diǎn)/納焦點(diǎn)) |
最高電壓 | 300KV/240KV/225KV/190KV/160KV | 240KV/225KV/190KV/160KV |
平板探測(cè)器
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | 600mm×600mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 25kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 2770mm×1540mm×2040mm(長(zhǎng)×寬×高) |
設(shè)備重量 | 8000kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測(cè)試卡進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證
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![]() | 原位4D成像 結(jié)合原位力學(xué)和溫度等加載裝置,實(shí)現(xiàn)4D CT成像。 |
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